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半球發射率測量儀

更新時間:2023-07-21

簡要描述:

半球發射率測量儀是用于測量發射率的設備。主要特點為:
1.重復性:±0.01 輻射單元
2.操作簡單:該設備的探測器部分可以電加熱,所以樣品無需加熱。無需進行溫度測量。
3.快速測量:設備本身預熱時間為30 分鐘,之后每1.5 分鐘可以進行一次輻射測量。
在150F(65℃)時(shi),發射(she)率測量儀的發射(she)率測量值接(jie)近全半(ban)球發射(she)率。探測器只對輻射(she)熱轉移有反應,該設(she)計(ji)滿(man)足電壓(ya)隨(sui)發射(she)率成(cheng)線性(xing)輸出。

放射率測試儀 半球發射率測量儀產品(pin)概述】

本發射率測量儀是用于測量發射率的設備。主要特點(dian)為(wei):

1.重復性:±0.01 輻射單(dan)元(yuan)

2.操作簡單:該設(she)備的探測器部分可以(yi)(yi)電加熱,所以(yi)(yi)樣品無(wu)需(xu)加熱。無(wu)需(xu)進行溫度測量。

3.快速測(ce)(ce)量:設備(bei)本身預熱時間(jian)為30 分鐘,之后每1.5 分鐘可以進行一次輻射測(ce)(ce)量。

在150F(65℃)時,發(fa)(fa)(fa)射(she)(she)率(lv)測(ce)(ce)量儀的(de)(de)發(fa)(fa)(fa)射(she)(she)率(lv)測(ce)(ce)量值(zhi)(zhi)接近全半(ban)球(qiu)發(fa)(fa)(fa)射(she)(she)率(lv)。探(tan)(tan)測(ce)(ce)器(qi)只對輻射(she)(she)熱轉移有反應,該設計滿(man)足電壓隨(sui)發(fa)(fa)(fa)射(she)(she)率(lv)成線(xian)性輸出(chu)(chu)。數(shu)(shu)字(zi)電壓表(biao)是發(fa)(fa)(fa)射(she)(she)率(lv)測(ce)(ce)量儀的(de)(de)讀出(chu)(chu)設備,右下角處設有一個調節鈕(niu),通(tong)過調節該鈕(niu),可(ke)以(yi)使讀出(chu)(chu)的(de)(de)電壓數(shu)(shu)與校準標樣(yang)的(de)(de)發(fa)(fa)(fa)射(she)(she)率(lv)保持(chi)*。之后,當發(fa)(fa)(fa)射(she)(she)率(lv)測(ce)(ce)量儀的(de)(de)探(tan)(tan)測(ce)(ce)器(qi)被放置(zhi)在待測(ce)(ce)材料表(biao)面上(shang)時,數(shu)(shu)字(zi)式電壓表(biao)便(bian)會直接顯(xian)示發(fa)(fa)(fa)射(she)(she)率(lv)數(shu)(shu)值(zhi)(zhi)。

發射率(lv)測(ce)量儀(yi)可以對橫截面直徑5.7 厘米(mi)的(de)平面材(cai)料進行測(ce)量。其適配器1 和適配器3 可以實現對橫截面直徑為2.54 厘米(mi)的(de)平面材(cai)料進行測(ce)量。我們也可以根據用戶(hu)的(de)需求定制用于圓柱形表面及其他表面測(ce)試的(de)適配器。測(ce)量發射率(lv)需要(yao)兩(liang)個步驟:

1.將發(fa)射(she)(she)率探測(ce)器(qi)置(zhi)于高(gao)發(fa)射(she)(she)率標樣之上,調節數字電壓表的讀數,以顯(xian)示其發(fa)射(she)(she)率;

2.將發射率(lv)探測(ce)器置于被測(ce)樣品之上(shang),從數字電壓表(biao)直(zhi)接讀(du)出其發射率(lv)。

半球發射率測量儀技(ji)術規范】

1.讀(du)數(shu)(shu):通過數(shu)(shu)字電壓(ya)表讀(du)出數(shu)(shu)據(ju)

2.輸(shu)出:2.4 毫(hao)伏額定電壓,樣(yang)品發射率0.9,樣(yang)品溫度(du)78F(25℃)。額定輸(shu)出電阻(zu)150歐。

3.線性:探測器線性輸出,發射(she)率在+/-0.01 單位以(yi)內。

4.時間(jian)常數:額定10 秒(時間(jian)達(da)到zui終(zhong)值(zhi)的63%)

5.熱槽:用于保持校準標樣和待測(ce)材料處于同一溫度(du)下

6.樣(yang)(yang)品溫度:zui高(gao)130F。樣(yang)(yang)品和(he)校準標(biao)樣(yang)(yang)必須(xu)處于同一(yi)溫度下(xia)。

4.偏差(cha)(cha):由于室溫的變化(hua),輸出將隨時(shi)間變化(hua)。該偏差(cha)(cha)可忽略。

5.標(biao)準(zhun)樣品:隨發(fa)射(she)(she)率測(ce)量(liang)儀將交付4 個校準(zhun)標(biao)樣,兩個高發(fa)射(she)(she)率校準(zhun)標(biao)樣和兩個低(di)發(fa)射(she)(she)率校準(zhun)標(biao)樣。一套高低(di)發(fa)射(she)(she)率校準(zhun)標(biao)樣將在工作(zuo)中(zhong)使用,另一套將作(zuo)為參照物被存(cun)儲(chu)。工作(zuo)標(biao)樣將定期根據存(cun)儲(chu)標(biao)樣進行降解測(ce)試。

9.直流(liu)(liu)功率(lv)適配器:通用(yong)直流(liu)(liu)適配器,100-240V,50-60Hz,直流(liu)(liu)12W。使用(yong)美標電源線。

發射率(lv)(lv)測(ce)(ce)量儀(yi)系統包(bao)括發射率(lv)(lv)探測(ce)(ce)器、用(yong)于(yu)直接讀(du)取發射率(lv)(lv)的數(shu)字式電壓表、功(gong)率(lv)(lv)/輸出線纜、熱槽、兩個(ge)(ge)高發射率(lv)(lv)校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)標樣、兩個(ge)(ge)低(di)發射率(lv)(lv)校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)標樣、技術注(zhu)解和操作(zuo)手冊(ce)。

 

 

選項(xiang)】

1.適(shi)配器(qi)1:發射率適(shi)配器(qi),用于(yu)測量平面材料,zui小直徑可達(da)1.5 英寸(3.8cm)。

2.適(shi)配器(qi)3:發射率適(shi)配器(qi),用于測量(liang)平面材料,zui小直徑可達1.0 英寸(2.54cm)。

3.定(ding)制適(shi)配(pei)器:可以根據需要,定(ding)制用(yong)于圓柱形表面或其他(ta)任何(he)幾何(he)形狀(zhuang)的適(shi)配(pei)器。

4.便攜箱:箱內有適(shi)合測(ce)試系統放置的槽。箱外尺寸13×16×7 英寸(33×40×18cm)

5.電(dian)池組(zu):用于便(bian)攜操作(zuo)(zuo),一組(zu)鋰離子(zi)電(dian)池可以提供(gong)12小時的(de)連續工作(zuo)(zuo)電(dian)源、低電(dian)量指(zhi)示和用于充電(dian)的(de)通用適配(pei)器。

  

【發射率測(ce)量適配器】

目前,我(wo)們已經可以(yi)(yi)使(shi)用發(fa)射(she)率測(ce)量(liang)(liang)儀適配器(qi)1 對(dui)zui小(xiao)直徑(jing)為1.5 英(ying)(ying)寸(3.8cm)的(de)(de)平面材(cai)料進(jin)(jin)行(xing)發(fa)射(she)率測(ce)量(liang)(liang)。典(dian)型(xing)應用包括,對(dui)太陽吸收板上的(de)(de)管子(zi)進(jin)(jin)行(xing)測(ce)量(liang)(liang),或對(dui)直徑(jing)小(xiao)于2.25 英(ying)(ying)寸(5.7cm)的(de)(de)樣品進(jin)(jin)行(xing)測(ce)量(liang)(liang)。適配器(qi)可以(yi)(yi)跳過被測(ce)區域周圍高(gao)達(da)0.375 英(ying)(ying)寸(0.95cm)的(de)(de)垂直的(de)(de)障(zhang)礙物。

適(shi)配器(qi)(qi)由兩個尼龍螺絲(si)釘固定。適(shi)配器(qi)(qi)與(yu)發(fa)射(she)率(lv)(lv)(lv)探(tan)(tan)測(ce)器(qi)(qi)頂端(duan)相匹配,下部(bu)是(shi)一個直(zhi)徑為(wei)1.5英寸的(de)(de)(de)圓形管(guan),管(guan)的(de)(de)(de)頂端(duan)便是(shi)探(tan)(tan)測(ce)器(qi)(qi)的(de)(de)(de)測(ce)量端(duan)口(kou)。圓形管(guan)的(de)(de)(de)內表面覆(fu)蓋了(le)一層高反射(she)率(lv)(lv)(lv)的(de)(de)(de)鏡面材(cai)料。該反射(she)材(cai)料將探(tan)(tan)測(ce)器(qi)(qi)與(yu)被(bei)測(ce)樣品發(fa)出的(de)(de)(de)熱輻射(she)集中,因此(ci),即(ji)使(shi)被(bei)測(ce)樣品與(yu)探(tan)(tan)測(ce)器(qi)(qi)間有較(jiao)大(da)距離,發(fa)射(she)率(lv)(lv)(lv)測(ce)量儀的(de)(de)(de)輸出值仍然(ran)很高。適(shi)配器(qi)(qi)的(de)(de)(de)測(ce)量端(duan)口(kou)處被(bei)一層聚四氟乙烯密封墊包(bao)裹,由此(ci)保護(hu)被(bei)測(ce)物體的(de)(de)(de)表面。

適配(pei)器(qi)3 的用法與適配(pei)器(qi)1 基本相(xiang)同,但存在以下區別:

適(shi)配器3 的(de)測量(liang)孔徑的(de)內直徑是0.75 英寸(cun),外直徑是1.0 英寸(cun)。因(yin)此(ci),適(shi)配器3 可以測量(liang)的(de)zui小(xiao)樣品直徑為1.0 英寸(cun)。該適(shi)配器的(de)錐形(xing)(xing)部位與與其圓(yuan)柱形(xing)(xing)部分緊(jin)密結合,便于使用反射膜。

當反射膜(mo)需(xu)(xu)要被(bei)替換(huan)時,應(ying)將適(shi)配器(qi)送回我(wo)公(gong)司。由于替換(huan)適(shi)配器(qi)錐形部位(wei)的(de)薄膜(mo)需(xu)(xu)要極精(jing)密的(de)技術,因此產品交付時不(bu)含備用反射膜(mo)。

適配器配有(you)一個(ge)鋁制砝(fa)碼(ma)。當使用適配器時,它將被安(an)裝在發射率探(tan)測(ce)(ce)器上(shang),以實現操作的(de)穩定性。探(tan)測(ce)(ce)器必須平穩的(de)置于被測(ce)(ce)表面之(zhi)上(shang)。砝(fa)碼(ma)可以調節(jie)至一端,以避開發射率探(tan)測(ce)(ce)器頂部的(de)螺絲釘。如果砝(fa)碼(ma)的(de)重(zhong)(zhong)量(liang)對(dui)于待(dai)測(ce)(ce)樣品而言(yan)重(zhong)(zhong)量(liang)過重(zhong)(zhong),用戶可以將其(qi)調至較輕的(de)重(zhong)(zhong)量(liang)。

 

【發射率測(ce)量儀(yi)系統配(pei)置】

1.發射(she)率測量儀;

2.兩個高發(fa)射率校準(zhun)標(biao)樣;兩個低發(fa)射率校準(zhun)標(biao)樣;

3.熱槽(cao);

4.配備100/240V 50-60Hz 通(tong)用電源的輸出線纜;

5.標準(zhun)電源線(xian);

6.數字電(dian)壓表;

7.便攜箱;

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