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紫外/可見/近紅外分光光度計

更(geng)新時(shi)間:2023-07-21

簡要描述:

Lambda 750/850/950紫外/可見/近紅外分光光度計是PERKINELMER公司在集多年*經驗制造的,代表了目前世界此類儀器Z高水平的雙光束、雙單色器系統比率式分光光度計。
波長范圍(wei):Lambda 750為(wei)175~3300nm,Lambda 850為(wei)175~900nm,Lambda 900為(wei)175~3300nm;整機(ji)及光學系統采用宇航技術的硬(ying)件:

紫外/可見/近紅外分光光度計產品概述】

Lambda 750/850/950紫外/可見/近紅(hong)外(wai)分光光度計(ji)是(shi)PERKINELMER公司在集多年*經驗制造的(de),代表了目前(qian)世(shi)界此類儀器zui高(gao)水平的(de)雙光(guang)束、雙單色器系統比率式紫外/可見/近(jin)紅外(wai)分(fen)光(guang)(guang)光(guang)(guang)度(du)計。

波長范圍:Lambda 750175~3300nmLambda 850175~900nm,Lambda 900175~3300nm;整機及光學系(xi)統采(cai)用宇航(hang)技術的(de)硬件:整個(ge)光學系(xi)統均采(cai)用涂覆SiO2的全(quan)息刻線光柵(紫外/可見刻線(xian)數(shu)為(wei)1440/mm,近(jin)紅外360條(tiao)/mm);采用的(de)四區分(fen)段的(de)扇(shan)形信號(hao)收集的(de)斬(zhan)波器,確保(bao)了(le)每次得到(dao)zui準(zhun)確樣品和參(can)比(bi)的(de)信號(hao)(斬(zhan)波器運轉期(qi)間,樣品和參(can)比(bi)的(de)信號(hao)分(fen)別單(dan)獨被(bei)各(ge)自的(de)黑區信號(hao)所校(xiao)正,波長精度zui高:紫外/可見區0.08nm)。

本儀器可用來測量玻(bo)璃的可見光透(tou)/反射(she)比(bi)(bi)、紫外線透射(she)比(bi)(bi)、太陽光(guang)直(zhi)接透/反射比、太陽能總(zong)透射比、顏(yan)色均勻性等,滿足國家(jia)現行標(biao)準的(de)要求。該儀器(qi)采用了世界上(shang)zui為*的(de)四扇(shan)區信號(hao)校正(zheng)技術(CSSC),確保了每次得到(dao)zui準(zhun)確樣品和參比的信(xin)號;予校準氘燈、碘鎢燈可自動轉換,無須工程師(shi)來(lai)操作;其采用的(de)全息光柵,分辨率高(gao),保證(zheng)了業界的(de)光學精度(du)。

紫外/可見/近紅外分光光度計執行標準】

GB/T 18915.1-2013 《陽光控制鍍(du)膜(mo)玻璃(li)》

GB/T 18915.2-2013 《低輻射(she)鍍膜玻(bo)璃》

GB/T2680-1994 《建筑玻璃 可(ke)見光透(tou)射(she)比 太陽光直接透射比 太陽能總(zong)透(tou)射比 紫(zi)外線透射(she)比及有關窗參數的測定》

技術參數】

Lambda

750

850

950

原理

雙光束

雙光束(shu)

雙光束

光譜范圍(wei)

175-3300nm

175-900nm

185nm以下需(xu)氮氣吹掃)

175-3300nm

185nm以下需氮氣吹掃)

帶寬(kuan)

0.175nm

0.05nm

0.05nm

雜散光

0.0001%T

0.00007%T

0.00007%T

波長精度

±0.1nm

±0.08nm

±0.08nm

波長重(zhong)復性

<0.06nm

<0.005nm

<0.005nm

光度(du)計精度(du)

±0.003A

±0.0003A

±0.0003A

光度計(ji)重復性

<0.001A

<0.00008A

<0.00008A

基線漂移

<0.0002A/h

<0.0002A/h

<0.0002A/h

基線平直

<±0.0008A

±0.0008A

±0.0008A

噪(zao)聲

<0.00005A

<0.00005A

<0.00005A

【產品特點】

1.主機:雙光束、雙單色器、比例記錄并由計算機控制的/可見/近紅外分光(guang)  光(guang)度計。

2.光學系統:整(zheng)個(ge)光學系統全部采用涂有SiO2保護(hu)層的(de)反射光學(xue)元件,全息刻線(xian)光  柵刻線(xian)密(mi)度zui高(紫外(wai)/可見(jian)為(wei)1440條/mm,近紅外(wai)360條/mm);采用的(de)(de)四  區(qu)(qu)(qu)分(fen)段(duan)的(de)(de)扇形信(xin)號(hao)收集的(de)(de)斬(zhan)波器(qi),確(que)保了每次得到zui準確(que)樣(yang)品和(he)(he)參比的(de)(de)信(xin)號(hao)(斬(zhan)  波器(qi)運轉期間,樣(yang)品和(he)(he)參比的(de)(de)信(xin)號(hao)分(fen)別單獨被各自的(de)(de)黑區(qu)(qu)(qu)信(xin)號(hao)所(suo)校正,波長(chang)精(jing)度(du)  zui高:紫外(wai)/可見(jian)區(qu)(qu)(qu)0.08nm);

 的四區分(fen)段的扇形(xing)信號收集的斬波器:扇形(xing)信號校正技(ji)術(CSSC);

&nbsp;數據(ju)采(cai)集順(shun)序(xu)為:樣(yang)品/黑區(qu)(qu)/參比/黑區(qu)(qu)。

3.儀器的標(biao)準(zhun)波(bo)長范圍寬(kuan)。

4.儀器的線性范(fan)圍寬(kuan): 紫外/可見(jian)區(qu):8A (Lambda 850/950)   6A (Lambda 750)

5.儀器的標(biao)準配置功能強大(da):

 通(tong)過軟件控制的光束遮(zhe)擋器使小樣品的測試*問題;

 軟件控制的參比(bi)及(ji)樣品光束衰(shuai)減器使儀器“幾乎能測到樣品的zui后一個光子&rdquo;;

 不用(yong)平(ping)滑原始數據即可得到的信噪(zao)比。

6.提供整個產品的解(jie)決方案:

 UV WinLab軟(ruan)件功能強大,可提供專家模式(Expert mode)運行儀(yi)器(qi),為用(yong)戶提  供*的(de)儀(yi)器(qi)參數(shu)(shu)(實驗(yan)條件)還可提供特殊應用(yong)的(de)數(shu)(shu)學運算、色度、建筑玻    璃(li)、防護玻璃(li)、濾光片及數(shu)(shu)據庫等的(de)軟(ruan)件。

7.可提供的附(fu)件zui全(quan):

漫(man)反射附件:60mm/150mm積(ji)分(fen)球、小樣品點雙錐型(漫反射(she))附件;

直(zhi)徑(jing)1.5~2mm的小樣品測試(如寶(bao)石)

收集球:60mm積分球,可與(yu)鏡反射附件和(he)大角度透射測量時采用(yong);

鏡反(fan)射附件:除常用的(de)一系(xi)列固定角(jiao)度與可變(bian)角(jiao)/相對鏡(jing)反射附(fu)件外,*推出了:

通(tong)用反射和透射測量附件URA 世界(jie)上*可(ke)在8~70度(du)的角度(du)內(nei),185~3200 nm計算機軟件(jian)多角度反射(she)一次設定,自動(dong)控制連續變(bian)角度空白-樣品-空白-樣品循環,可對材料進(jin)行和相(xiang)對鏡面(mian)反射的測(ce)量。樣品尺寸(cun)無限制!也可進(jin)行透射模式(shi)的測(ce)定(ding);

URA*的硬件與軟件;

定向的相對鏡反射/透射附件(可在1~80度(du)的(de)(de)正(zheng)負角度(du)對材料進行(xing)透射或反射模(mo)式的(de)(de)高精度(du)測(ce)量(liang),包括(kuo)起偏器及兩個反射標準鏡);

定向的VW型鏡反射附件(jian)(可在8~80度(du)(du)的正負角度(du)(du)對鏡材(cai)料(liao)進行透射或反(fan)射模式的高精(jing)度(du)(du)測量,包括激(ji)光準直(zhi)及(ji)(ji)起偏(pian)器及(ji)(ji)兩(liang)個反射標準鏡(jing));

雙(shuang)光欄附(fu)件(可校(xiao)正(zheng)檢測器(qi)的非線性誤差,從而(er)提(ti)高(gao)儀(yi)器(qi)的線性范圍及(ji)光度(du)計精度(du));

起偏(振)器和消偏(振)器;

*光學臺(GPOB):*的多功能樣品臺,用于(yu)大(da)樣品(pin)或成品(pin)的(de)測試(如大(da)的(de)激光晶體、望(wang)遠鏡透鏡、照相機(ji)鏡頭、汽車玻璃等)

光(guang)纖附件:用(yong)于濾(lv)光(guang)片及半導體晶(jing)片的大型(xing)測量工(gong)具、蠕(ru)動泵(beng)吸液器(qi)、多池(chi)支架、線性傳輸和凝膠(薄膜、濾(lv)光(guang)片)掃描附件(可選配與(yu)之配套的狹縫(feng)調(diao)節附件,用(yong)于改變(bian)樣品與(yu)參比(bi)光(guang)束的大小)。

8.應用(yong)領域(yu)極廣:

光學、涂層(ceng)、色度、材料(liao)、玻璃(li)、生物(wu)技術、藥物(wu)、交通(tong)(tong)、通(tong)(tong)訊

 

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